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microworks X射线干涉仪Talint EDU.pdf下载
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Talint EDU是X射线Talbot Lau干涉仪的一种巧妙简化形式，包括所有必要的硬件，以正确设置和微调干涉仪，并应用相位步进程序，以获得三种成像模式：吸收、相位对比度和暗场对比度。
硬件的设计使得，在按照我们的说明组装（预装）套件后，莫尔条纹将很容易在您的探测器上看到。莫尔条纹图案的进一步微调可以通过使用G1和G2支架中的微米螺钉使光栅绕光轴进行角旋转，以直接的方式进行。
产地：德国
长度：60厘米
宽度：15厘米
高度：20厘米
光栅开放区域
G0：15毫米
G1：70毫米
G2：70毫米
干涉仪的微调：仅调整G1和G2绕光轴的旋转角度
样品放置：简单的旋转台，可在光轴内外摆动样品
相位步进：闭环压电级。30nm分辨率
边缘能见度：通常>15%
G0和G2的占空比：0.55
G0和G2的基板：400µm石墨
G1占空比：0.5
G1基板：200µm硅
