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DICON EXFO 光器件测试仪 CT440

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产品介绍

CT400将高速电子设备和光干涉测量技术结合起来。四个集成的检测器使您能够同时测量四个通道，单次激光器扫描的动态范围为65 dB。此外，在以任何速度进行扫描时波长精度都可以达到±5 pm，因此不需要在测量速度和精度间进行取舍。CT440集成了一个监测光电探测器，在扫描期间对来自激光光源的任何功率波动进行补偿。可以不考虑激光器扫描速度，在1和250 pm之间选择采样分辨率。除了±5 pm的波长精度外，内置的波长计可减轻对可调谐激光光源（TLS）的要求，从而在不影响测量性能的情况下降低系统成本。CT440在与TLS和PC连接时，可提供执行准确测量所需的各种功能。

01

性能特点
- 快速测量变换函数（插损）
- 波长范围：1240-1680 nm（SMF型号）
- PM和PDL选件
- 波长分辨率：1至250 pm
- 波长精度：±5 pm
- 动态范围：单次扫描时65 dB
- 至多可结合4个可调谐激光器（SMF型号）
- 配备四个内部检测器，可通过同步进行扩展
- 19英寸机架支持1U版本
02

技术参数
- 工作温度：15 °C至30 °C（59 °F至86 °F）
- 存储温度：–10 °C至60 °C（14 °F至140 °F）
- 相对湿度:<80 %（非冷凝）
- 电源:AC：100 V至240 V（50 Hz至60 Hz）
- 尺寸（W x H x D）:440 mm x 50 mm x 375 mm
- 重量:3.5 kg至3.9 kg（7.7 lb至8.6 lb）