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MOXTEK像素化偏振片PIX Series.pdf下载
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像素化偏振器被设计为将不同的偏振角合并到单个阵列中,该阵列可以与CCD/CMOS相机阵列对准,从而实现全时偏振。传统的偏振测量需要用不同的偏振拍摄多个图像,并且多个相机彼此准确对准。生成的图像数据须仔细叠加和对齐,这需要增加时间、设备和精度。当速度和分辨率至关重要时,像素化偏振器可以实现实时成像。Moxtek进一步开发了纳米压印光刻(NIL)制造工艺,提高了像素间的性能和均匀性,同时允许潜在的更可靠的对准压印。
高耐热性
产地:美国
波长范围:400-700nm(根据要求400-2500nm)
基板类型:显示器级玻璃
厚度:0.7±0.07mm
折射率:1.5198(435.8nm)
1.5078(643.8nm)
热膨胀:31.7 x 10-7/˚C(0-300˚C)
AOI(入射角):0˚±20˚
AR涂层:取决于工作波长
温度:max.200˚C,>5000小时
传动轴(TA):参考长边
TA公差:±1˚
RoHS:符合
透射:像素中间632nm时>80%
对比度:像素中间632nm处>200:1
偏振测量和3D相机
生物特征面部识别
偏振显微镜
偏振光纤探头
遥感
干涉测量
污染检测
微米和纳米光学