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SHR波长计是一种理想的低成本高精度仪器，用于测量激光应用领域以及固态激光器、二极管激光器、染料激光器和OPO的调整和测试过程中的激光波长。SHR光学方案基于工作在高光谱级的Echelle衍射光栅和用作检测器的线性图像传感器。该仪器不包含任何可移动元件；通过全速USB接口从计算机执行供电和控制。分析的光通过装有衰减器的光纤入射到SHR的输入狭缝。
SHR波长计可在190-1100 nm的最宽光谱范围内以+/-3 pm的高精度快速轻松地测量CW和脉冲激光的绝对波长值，并可检测分辨率为30000（λ/Δλ＜FWHM）的分析线的FWHM，其构成从紫外线光谱范围的6 pm到红外线范围的40 pm。SHR还确保在调谐分析波长的过程中在线监测上述值。
SHR光谱仪不直接用于等离子体和其他填充光谱的分析；然而，它可以用于分析Echelle阶光谱宽度范围内的窄光谱区间——从紫外线光谱范围的0.5 nm（190 nm）到红外线光谱范围的18 nm（1200 nm），用滤光片或任何其他光谱设备初步分离。
扩散衰减器 FA-3：包含两个扩散石英玻璃和 SMA-905 连接器。
光纤端相对于扩散元件的轴向调整。
产地：立陶宛
操作模式：CW和脉冲（外部触发）
光谱范围：190-1100 nm
绝对精度：+/-3 pm
光谱分辨率（仪器功能，λ/ΔλFWHM）：30000
（从193nm的6pm到1200nm的40pm）
源线宽要求：<=125 cm-1
（从193nm的0.5nm到1200nm的18nm）
光学接口：632.8 nm下小于0.5µW，曝光时间为min.7 ms
计算机接口：
-光纤直径400微米，1000mm长连接器SMA-905>
-配备SMA-905的扩散衰减器FA-3
软件：WLMeter
尺寸：165×215×90 mm
重量：2.6 kg
激光领域，以及固体激光器、二极管激光器、染料激光器和 OPO 的调整和测试过程
