Tracer III-SD 配备了专有的 X-Flash® 硅漂移探测器 (SDD),该探测器具备高速的数据捕获、比传统 SiPIN 探测器更高的分辨率和轻元素敏感性。当 Tracer III-SD 与可选真空系统一起使用时,可以实现超轻元素敏感性。除了基本仪器,该系统还配有:1) 功能强大、基于台式机的分析软件,具备实时光谱显示和完整的峰值鉴定;2) 可对分析仪进行精确三维定位的三脚架;及 3) 无与伦比的应用培训和支持。
优点一览
- 台式仪器的功能,具备手持装置的便利性
- 功能强大、基于台式机的分析软件
- 可定制的过滤器和次级目标,以优化分析结果
- 实时光谱显示
- 与 NASA 携手为航天飞机计划开发的真空技术
- 标准组件,包括 360o 三脚架
- 专有的 X-FLASH® SDD 技术(仅限 Tracer III-SD 和 IV-SD)
- 无与伦比的培训和支持